同軸開關(guān)是全球射頻和微波開關(guān)產(chǎn)品市場上領(lǐng)先的設(shè)計(jì)和制造商，已具有60 多年歷史。在微波測試系統(tǒng)中，射頻和微波開關(guān)大量用于儀器和被測器件(DUT) 間的信號(hào)路由。把開關(guān)置入開關(guān)矩陣系統(tǒng)，就可把來自多臺(tái)儀器的信號(hào)路由至一個(gè)或多個(gè)DUT。這樣就能夠用一套測試裝置完成多種測試，而不需要頻繁地?cái)嚅_和重新連接。并能實(shí)現(xiàn)測試過程的自動(dòng)化，從而提高批量生產(chǎn)環(huán)境下的測試效率。今天的高速制造要求在測試儀器和開關(guān)接口及自動(dòng)測試系統(tǒng)中使用高性能和可重復(fù)的開關(guān)元件。

高頻測試系統(tǒng)所不希望出現(xiàn)的現(xiàn)象。對(duì)于交流信號(hào)而言，材料之間介電常數(shù)的任何變化都會(huì)導(dǎo)致特性阻抗的變化和阻抗失配問題。例如，當(dāng)某個(gè)正弦波沿著某條40.9-W傳輸線和50-W負(fù)載傳輸時(shí)，它的部分能量將會(huì)反射回傳輸線上。掌握信號(hào)反射發(fā)生的原理有助于我們改進(jìn)測試系統(tǒng)的配置和測量效果，這對(duì)于高頻測試尤其重要。盡管由于反射導(dǎo)致的功率損耗是所有交流系統(tǒng)普遍存在的現(xiàn)象，但是僅當(dāng)系統(tǒng)中傳輸線的長度大于其傳輸信號(hào)波長的1/100時(shí)，由功率損耗而導(dǎo)致的測量誤差才值得我們關(guān)注。由于射頻信號(hào)具有較短的波長，因此它們相比低頻信號(hào)更容易受反射導(dǎo)致的功率損耗的影響。

鐵氧體開關(guān)的原理是改變偏置磁場方向，實(shí)現(xiàn)導(dǎo)磁率的改變，改變了信號(hào)的傳輸常數(shù)，以達(dá)到開關(guān)目的。PIN管在正反向低頻信號(hào)作用下，對(duì)微波信號(hào)有開關(guān)作用。正向偏置時(shí)對(duì)微波信號(hào)的衰減很?。?.5dB），反向偏置時(shí)對(duì)微波信號(hào)的衰減很大,BJT和FET開關(guān)的原理與低頻三極管開關(guān)的原理相同，基極（柵極）的控制信號(hào)決定集電極（漏極）和發(fā)射極（源極）的通斷。放大器有增益，反向隔離大，特別適合于MMIC開關(guān)。MEMS微機(jī)械電路是近年發(fā)展起來的一種新型器件，也可以用作開關(guān)器件.